Optical microscopy
Zeiss Axioskop 2 MAT research microscope
Magnification levels:
- 25 / 50 / 100 / 200 / 500 / 1000x
Contrast method:
- Brightfield / darkfield / polarisation in incident light and transmitted light mode
- Differential interference contrast in reflected light mode Heating stage (RT up to 120°C)
Software:
- Olympus analySIS-FIVE extended depth of field (z-stack) Quantitative image analysis

Dr.-Ing. Kerstin Kern
IMP Institut für Mikrotechnik und Photonik Projektleiterin und Fachverantwortliche Werkstoffprüfung
+41 58 257 34 08 kerstin.kern@ost.ch

Jan Allaart
IMP Institut für Mikrotechnik und Photonik Experte für Schadensanalyse
+41 58 257 33 75 jan.allaart@ost.ch
